ANALISIS KEKERASAN DAN STRUKTUR MIKRO BIO KOMPOSIT RESIN EPOXY/SERAT KENAF ARAH SERAT VERTIKAL CASTING
Total View This Week0
Total View This Week0
Institusion
Universitas Bung Hatta
Author
Zuhri, Aryando
Hendra, Suherman
Hendra, Suherman
Subject
TJ Mechanical engineering and machinery
Datestamp
2022-08-08 08:05:54
Abstract :
ABSTRAK Kekerasan merupakan salah satu sifat mekanik suatu bahan. Kekerasan (Hardness) suatu bahan harus diketahui, terutama bahan yang digunakan akan mengalami gesekan (Fritctional force) dan dievaluasi dari besar kecilnya sifat mekanik bahan yang didapat dari deformitas plastis (kelainan bentuk yang diberikan dan selanjutnya diserahkan), tidak kembali ke bentuknya yang semula karena ruang oleh sebuah artikel sebagai alat uji. Pengujian ini menggunakan alat yang disebut Shore Hardness tester. Scanning electron microscope (SEM) adalah sejenis alat pembesar elektron yang menggunakan pilar elektron untuk menggambarkan keadaan permukaan contoh yang dibedah. SEM memiliki tujuan yang lebih tinggi daripada optical magnifying instrument (OM). Hal ini dikarenakan frekuensi de 31 Broglie yang memiliki elektron lebih terbatas dibandingkan gelombang OM. Karena semakin rendah frekuensi yang digunakan, semakin tinggi tujuan lensa pembesar. SEM memiliki tujuan yang lebih tinggi dari OM. Goal yang dapat disampaikan oleh OM hanya 200 nm, sedangkan goal yang dapat dibuat oleh SEM sebesar 0.1 ? 0.2 nm. Kata Kunci : Serat kenaf, Analisis kekerasan, Scanning electron microscope (SEM)
ABSTRAK Kekerasan merupakan salah satu sifat mekanik suatu bahan. Kekerasan (Hardness) suatu bahan harus diketahui, terutama bahan yang digunakan akan mengalami gesekan (Fritctional force) dan dievaluasi dari besar kecilnya sifat mekanik bahan yang didapat dari deformitas plastis (kelainan bentuk yang diberikan dan selanjutnya diserahkan), tidak kembali ke bentuknya yang semula karena ruang oleh sebuah artikel sebagai alat uji. Pengujian ini menggunakan alat yang disebut Shore Hardness tester. Scanning electron microscope (SEM) adalah sejenis alat pembesar elektron yang menggunakan pilar elektron untuk menggambarkan keadaan permukaan contoh yang dibedah. SEM memiliki tujuan yang lebih tinggi daripada optical magnifying instrument (OM). Hal ini dikarenakan frekuensi de 31 Broglie yang memiliki elektron lebih terbatas dibandingkan gelombang OM. Karena semakin rendah frekuensi yang digunakan, semakin tinggi tujuan lensa pembesar. SEM memiliki tujuan yang lebih tinggi dari OM. Goal yang dapat disampaikan oleh OM hanya 200 nm, sedangkan goal yang dapat dibuat oleh SEM sebesar 0.1 ? 0.2 nm. Kata Kunci : Serat kenaf, Analisis kekerasan, Scanning electron microscope (SEM)
Download
book
BibTex
Latex, Jabref
cloud_download
Original Resource
url resource Institution
